光学视像缺陷检测系统/在线鱼眼

SURFACESTAR GS

光学视像缺陷检测系统

光学视像缺陷检测系统专为表面缺陷检测而设计，采用高速行扫描CCD技术与智能分级算法，可以高效、准确地识别各种不同材料的表面缺陷瑕疵位置、类型、数量（包括黑点、杂质、晶点、鱼眼、划痕、裂纹、凹陷等），并依据瑕疵类别、数量等定义报警，生成各卷检测记录，产生分析报告，适配于各种膜机。广泛应用于半导体、电子、汽车、玻璃等行业。

系统由高速线扫描相机，专用LED发光二极管光源系统，和SMASH工作站（应用系统操作、数据评估、图像分析），编码器，卷复系统组成。

应用领域及技术数据

材料：塑料薄膜和片材
特性：透明、彩色，半透明、厚度和光学特性存在差异
视场大小：400mm视场

薄膜进料速度：通常为:50-200m/min

缺陷类型：任意类型，例如:晶点、鱼眼、斑点、昆虫等
可检出最小缺陷：0.1 mm

高精度-确保工艺质量

• 技术领先，高精度4096/60MHz高速扫描相机
• 内置质量审核工具
• 完整记录所有质量检测结果；
• 可优化设置，保存记录相关容差值和阈值，超出自动报警
• 兼容OPC-UA接口/兼容OPC以及MQTT，即插即用

独特自主学习机制（可选）

• 统合瑕疵分布图、瑕疵明细和瑕疵分类统计表；
• 支持数字化与颜色评级；
• 支持视频分析模式 对材料均匀性监控